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UNFORS Xi 射線放射評價系統

簡要描述:UNFORS Xi 射線放射評價系統可用于檢測所有診斷用X光設備,包括一般的工頻X線發生器和高檔的變頻X線高壓發生器的X光機、拍片機、透視機、脈沖透視機、牙科機、全景牙科機、牙科CT機、低劑量CR機、DR機、小型便攜式X光機、DSA(數字減影系統)、不同靶材的乳腺機、掃描乳腺機、CT機等醫用X光機安全質量性能檢測。
同時還具備測量光照度,測量散漏射線的功能。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2017-07-14
  • 訪  問  量:1005
詳情介紹

  UNFORS Xi 射線放射評價系統簡介:

可用于檢測所有診斷用X光設備,包括一般的工頻X線發生器和高檔的變頻X線高壓發生器的X光機、拍片機、透視機、脈沖透視機、牙科機、全景牙科機、牙科CT機、低劑量CR機、DR機、小型便攜式X光機、DSA(數字減影系統)、不同靶材的乳腺機、掃描乳腺機、CT機等醫用X光機安全質量性能檢測。 
同時還具備測量光照度,測量散漏射線的功能。檢測探頭小巧,更便于檢測對探頭擺放位置要求嚴格的設備如全景牙科機等。

UNFORS Xi 射線放射評價系統測量方式:

   a)一臺主機可以搭配不同探頭用以滿足不同客戶的需求,并可以根據客戶需求將探頭功能分離和整合。

   b)配備專業數據處理軟件,基于微軟技術,用于顯示存儲分析檢測數據、波形,生成測試報告,并可以通過藍牙無線連接或RS232有線連接與主機進行實時通訊與雙向控制。

   c)半導體固態探頭,體積小巧大大增加了設備的便攜性(zui輕探頭僅50g),相比電離室探頭不受外界環境溫濕度的影響。

  d)測量低劑量率時無需更換探頭

測量模式

   主機須自帶顯示器,主機無須外接顯示器??梢砸淮纹毓饪赏瑫r測量電壓,劑量,劑量率,半價層,脈沖,脈沖率,每脈沖劑量,曝光時間,連接mAs連接線可同時顯示mA,mAs.,連接外接設備可以同時顯示測量參數波形包括kV,dose,mA的波形。

   可以測量多種光束質量的乳腺機以及掃描乳腺機,光束質量包括Mo/Mo, Mo/Al, Mo/Rh, Rh/Rh, Rh/Al, W/Rh,, W/Ag, W/Al。 同時一次曝光可以直接測量出乳腺機半價層。

屏幕亮度計:

測量范圍:0.01~19990cd/m2 

精度:≥測量值的±0.5%±1個字 

準確度:≤測量值的±4%±1個字(相對于NIM標準) 

光譜響應特性:符合*標準

線性誤差:≤測量值的±0.2%±1個字

溫度特性:≤測量值的±0.1%/℃±1個字

長期穩定性:年變化<2%

 

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